电感耦合等离子体质谱法测定高纯钨中15种痕量杂质元素

摘要：

采用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定高纯钨中杂质元素含量；应用H2反应池技术消除复合离子对K、Ca、Fe和Si等元素的干扰；考察了溶液酸度、基体效应等条件对测定结果的影响；以内标校正法补偿基体效应,优化选择了测定同位素和内标元素,最终建立高纯钨中15种杂质元素含量的测定方法.方法测定下限介于0.12～0.50 μg/g,加标回收率在96.1％～110.6％之间,相对标准偏差小于8％.采用该方法测定高纯钨条和钨粉两种实际样品,可以满足4N～5N高纯钨的测定.

关键词：电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)、反应池技术、高纯钨、杂质元素

所属期刊栏目：32

分类号：O657.63(分析化学)

资助基金：国家科技支撑计划2006BAF07B02

在线出版日期：2012-01-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：216-221