磺隆类除草剂的飞行时间二次离子质谱研究

摘要：

采用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析6种磺隆类除草剂,获得了它们的正离子和负离子谱图.数据显示,这类除草剂在TOF-SIMS谱图中均出现准分子离子峰和特征碎片离子峰.裂分机理讨论进一步表明,这类除草剂的典型碎片化发生在化合物结构中酰胺基团的C-N键之间,可获得较大质量片段的碎片化离子以及准分子离子的主要原因是其芳香结构的稳定化作用.结果表明,尽管TOF-SIMS由于其特殊电离方式通常容易导致一般有机分子的高度碎片化,但还是有望用于磺隆类除草剂及其衍生物或降解物的定性检测.

关键词：磺隆类除草剂、飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)、裂分规律

所属期刊栏目：32

分类号：O657.63(分析化学)

资助基金：国家科技支撑计划2006BAK03A21

在线出版日期：2011-07-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：86-94