卫星用进口裸芯片可靠性评价方案设计与应用

摘要：

目前卫星型号组件研制过程中往往采用进口裸芯片,如何提高进口裸芯片可靠性成为了型号组件应用的难题之一.描述了进口裸芯片评价方案设计的基本思路、基本要求,列出了裸芯片评价试验的设计步骤、目的及可暴露的缺陷,并通过实例说明了评价方案设计过程,同时也指出了目前实施过程中出现的问题,有利于推动进口裸芯片评价工作的开展,并进一步提升裸芯片的装机可靠性.

关键词：进口裸芯片、可靠性、评价方案、评价试验

分类号：TP311.52;U491.13;R472

在线出版日期：2019-01-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：44-48