10.3969/j.issn.1006-7086.2016.04.006
电子/质子综合辐照带通滤光片的性能退化机理研究
随着航天器的寿命从5年增加到8年以上,光学薄膜在空间飞行中经受的带电粒子辐照时间更长,光学薄膜更容易受到损伤,因此对光学薄膜抗辐射性能要求也不断提高。开展了光学薄膜带通滤光片电子/质子综合辐照实验,研究电子/质子综合辐照作用下带通滤光片的性能退化规律,借助于XPS和AFM等表面分析技术对带通滤光片微观分析,研究带通滤光片在电子/质子综合辐照下的退化机理。为带通滤光片空间适应性研究提供基础,同时为带通滤光片工艺设计与可靠性提供技术支撑。
带通滤光片、电子/质子辐照、性能退化
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O47(半导体物理学)
真空技术与物理重点实验室基金项目9140C550102140C55235
2016-09-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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210-213