栅极系统电子返流对离子推力器寿命影响

摘要：

栅极系统电子返流是离子推力器寿命的主要失效模式之一.以20 cm Xe离子推力器地面运行测试数据为基础,结合离子推力器栅极系统电子返流失效机理,预测了离子推力器在地面测试环境中和空间飞行环境中栅极系统电子返流对寿命的影响.预测结果表明:20 cm Xe离子推力器在地面试验环境中和空间飞行环境中的预期寿命分别为6600 h和17000 h.

关键词：加速栅、电荷交换离子、电子返流、离子推力器

所属期刊栏目：18

分类号：V439+.1(推进系统（发动机、推进器）)

资助基金：真空低温技术与物理重点实验室基金项目9140C550211120C5501

在线出版日期：2012-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：21-25