10.3969/j.issn.1006-7086.2010.02.010
GaN负电子亲和势光电阴极的激活改进研究
采用低压金属有机化学气相沉积法在蓝宝石(0001)衬底上生长2~5 μm厚度的P-AlxGa1-xN/GaN层(0<X≤0.4),在AlxGa1-xN层中的Al浓度为0.2<X<0.7.P型GaN激活层的电子扩散长度确定为2~5 μm,并获得3×1019 cm-3的掺杂浓度.提出的GaN基光电阴极的表面能带结构模型,对实验结果给予了比较满意的解释.
负电子亲和势、GaN光电阴极激活、紫外敏感材料、新能带结构模型
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TN23(光电子技术、激光技术)
自主资助项目556000829
2010-10-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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108-112