(Pb1-xSrx)TiO3铁电薄膜电滞回线的测试分析

摘要：

采用磁控溅射法制备了PST薄膜,讨论了其制备工艺并着重对其电滞回线进行了测试分析.从测试结果来看,其饱和极化强度Ps典型值为19.0μC/cm2,剩余极化强度为6.6μC/cm2,矫顽场强为16 kV/cm,热释电系数为10-4量级.表明所制备的PST薄膜具有较好的铁电性能.

关键词：(Pb1-xSrx)TiO3薄膜、磁控溅射、电滞回线、铁电性

所属期刊栏目：12

分类号：O484.4+2(固体物理学)

资助基金：国家自然科学基金69671008

在线出版日期：2006-11-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：142-144