功率MOSFET单粒子烧毁测试技术研究

摘要：

总结了2种单粒子烧毁测试方法.在非破坏性测试原理基础上,研制成功针对星用功率MOSFET的单粒子烧毁动态测试系统.系统在锎源单粒子效应实验装置调试通过.利用该系统,在HI-13串列加速器上初步完成了星用MOSFET单粒子烧毁验证实验.

关键词：单粒子烧毁(SEB)、功率MOSFET、测试方法

所属期刊栏目：10

分类号：TN386;V443(半导体技术)

在线出版日期：2004-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：21-25