双密封结构泄漏过程浅析

摘要：

用氦质谱加压真空法检测双密封结构产品漏率时,常有"缓慢升高"现象的发生,必需解决这一读数困难的问题.建立了双密封结构泄漏过程的数学模型,从而在理论上解释了此类现象发生的原因,并编制程序后对一些具体结构进行了分析计算.这对确定检漏时间和相应的数据处理方法有一定的指导意义.

关键词：氦质谱检漏仪、检漏、真空、双密封结构

所属期刊栏目：7

分类号：TB774.+3;TH843(真空技术)

在线出版日期：2004-12-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：184-186