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10.3969/j.issn.1002-8935.2004.03.006

a-C:F薄膜的工艺及热稳定性研究

引用
以CF4和CH4为源气体,用PECVD法制备了不同沉积条件下的a-C:F薄膜,测量了薄膜的厚度,研究了薄膜沉积速率和沉积工艺的关系,用傅立叶变换红外谱(FTIR)分析了薄膜的化学键结构,用扫描电镜和原子力显微镜分析了薄膜表面形貌,对薄膜在真空中进行了退火,研究了薄膜的热稳定性.实验表明,沉积速率在5~8 nm/min之间,薄膜表面平整、致密,在300℃内有较好的热稳定性.

PECVD、沉积速率、a-C:F薄膜、表面形貌

O484(固体物理学)

2004-08-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

23-26

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1002-8935

11-2485/TN

2004,(3)

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