扫描隧道显微镜钨针尖氧化层去除的化学方法

摘要：

电化学腐蚀得到的扫描隧道显微镜(STM)钨针尖表面通常覆盖了一层钨的氧化膜,这层氧化膜的存在很大程度上影响了STM扫描图像质量.本实验采用氢氟酸对新制备出的钨针尖进行去氧化层处理,并通过对比两组高序热解石墨(HOPG)STM图像和金样品的扫描隧道谱来论证这种去氧化层手段的有效性.

关键词：扫描隧道显微镜、电化学腐蚀、钨针尖、氧化层

分类号：TN16(真空电子技术)

在线出版日期：2004-07-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：31-33