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10.3969/j.issn.1002-0322.2007.03.005

激光器全反射介质膜的制作原理与光学厚度测定

引用
阐述了光学薄膜的镀制原理、反射率推算,阐述了镀制全反射介质薄膜过程中光学厚度的测定方法-极值法测量的原理和所用光线的波长,阐述了得到高反射率的条件,给出了测量膜厚的实验系统装置,并叙述了镀制17层全反射介质薄膜的过程和测量的方法,最后给出了17层全反射介质薄膜的反射率测量结果.

薄膜光学、反射率、透射率、相干光、位相、波长

44

O484.5(固体物理学)

2007-06-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

16-18

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1002-0322

21-1174/TB

44

2007,44(3)

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