ASIC设计流程中的典型问题研究

摘要：

随着集成电路制造工艺的快速发展,系统芯片(SOC)及其功能ASIC模块的研究越来越引起关注.基于ASIC设计流程,讨论了当前ASIC设计中逻辑综合、易测性、低功耗等一些典型问题,并以工艺独立阶段和工艺映射阶段中ASIC综合需要解决的问题为研究重点,结合实例分析了其中的关键环节,以期作为高性能ASIC设计优化、可测性设计、设计验证等方向分析研究的前期工作.

关键词：ASIC、逻辑综合、可测性设计、低功耗

所属期刊栏目：35

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：浙江省教育厅资助项目20051399

在线出版日期：2007-04-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：127-131