高纯铝晶粒尺寸与晶粒拓扑学参数定量关系研究

摘要：

本文采用晶界渗镓剥离晶粒技术实现了三维晶粒尺寸及其拓扑学参数(晶粒界面数N2)的直接实验测量，利用回归分析，得出了晶粒尺寸与晶粒拓扑学参数定量关系：晶粒界面数N2与晶粒尺寸间存在线性对应关系。

关键词：晶粒尺寸、拓扑参数、回归分析

所属期刊栏目：29

分类号：O73(晶体物理)

在线出版日期：2004-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：17-19