高压支柱瓷绝缘子小角度纵波探伤缺陷案例分析

摘要：

针对某供电公司220kV基建变电站35kV高压支柱瓷绝缘子小角度纵波探伤缺陷案例,运用X射线数字成像技术检测、绝缘电阻试验、泄漏电流试验、解剖后宏观检查、孔隙性试验等技术手段,对小角度纵波探伤缺陷支柱瓷绝缘子进行了检测分析.试验结果表明,该支柱瓷绝缘子DR检测无异常缺陷显示,但其绝缘电阻值偏低、泄漏电流超标,解剖后发现瓷体内部存在大面积黄芯,且孔隙性试验不合格.综合分析检测结果,判定该支柱瓷绝缘子不符合挂网运行使用要求.

关键词：高压支柱瓷绝缘子、小角度纵波探伤、数字成像技术、缺陷、原因分析

所属期刊栏目：37

分类号：TM855(高电压技术)

在线出版日期：2018-11-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：28-30