基于边界扫描的簇测试系统设计

摘要：

在对边界扫描及簇测试技术研究的基础上,以边界扫描测试总线控制器芯片为核心设计实现了一个簇测试系统,选择W-A的GNS算法对所设计的测试系统进行了簇测试实例验证.实验结果表明,该测试系统能够快速准确地检测出被测系统的固定逻辑故障和短路故障.

关键词：边界扫描、簇测试、W-A的GNS算法

所属期刊栏目：22

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-06-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：53-57