高度近视脉络膜厚度的加强深度成像检查研究进展
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3760/cma.j.issn.1005-1015.2013.05.029

高度近视脉络膜厚度的加强深度成像检查研究进展

引用
高度近视脉络膜厚度下降可能是病理性近视发病过程中的重要环节.传统频域光相干断层扫描(SD-OCT)脉络膜成像不全,近年出现的加强深度扫描模式(EDI)技术有利于反映脉络膜全层图像.通过EDI技术能够在体观察和随访高度近视人群的脉络膜微观结构,并进行定量分析.随着EDI分辨率的提高,今后还可以定性观察脉络膜细微结构改变,从而加深对高度近视眼底病变形成机制的认识.

近视,退行性/诊断、体层摄影术,光学相干、综述

29

R778.11(眼科学)

国家”973”课题2011CB707506;国家自然科学基金面上项目81271030,81170861

2013-11-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

539-541

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

中华眼底病杂志

1005-1015

51-1434/R

29

2013,29(5)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn