磁石的X射线衍射Fourier指纹图谱研究

摘要：

目的 建立磁石的X射线衍射(XRD) Fourier指纹图谱分析方法.方法 采用粉末X射线衍射(XRD)技术对矿物药磁石进行分析,测定其XRD Fourier指纹图谱,并作模糊聚类法分析和相似度评价.结果 初步建立了以11个共有峰为特征指纹信息的12批磁石的XRD Fourier指纹图谱分析方法,其中4号峰和7号峰分别为石英和四氧化三铁的特征峰;所分析样品XRD Fourier指纹图谱的相似度为0.849～0.998;少数样品XRD Fourier图谱的峰数目和峰强有一定差异;生品与煅制品的XRD Fourier图谱自明显差异.结论 XRD Fourier指纹谱分析法可用于磁石药材的鉴定与分析.

关键词：磁石、X射线衍射、指纹图谱

所属期刊栏目：33

分类号：R284.1(中药学)

资助基金：国家十一五科技支撑计划项目2006BA155B02

在线出版日期：2013-05-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1652-1657