正常糖代谢、正常血糖高胰岛素血症及糖耐量低减人群胰岛素抵抗的评估

摘要：

胰岛素抵抗(IR)和B细胞功能减退是2型糖尿病(T2DM)的主要发病机制.有人认为IR在T2DM血糖发生异常之前就已存在”1-2”,因此有学者提出将T2DM的进程分为3个阶段:正常血糖高胰岛素血症(NG-HIns)阶段、糖耐量低减(IGT)和糖尿病阶段”1”.也就是说NG-HIns与IGT同为T2DM的“后备军”.本研究应用胰岛素敏感性检测“金标准”高胰岛素正葡萄糖钳夹技术(HECT)来评估正常糖耐量(NGT)、NG-HIns和IGT 3组不同人群IR水平,旨在深入阐述T2DM发病机制,为T2DM早期预防奠定理论基础.

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资助基金：北京市科技计划项目Z0005187040291

在线出版日期：2015-09-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：795-797