10.3760/cma.j.issn.0254-9026.2013.02.007
弥散加权成像联合磁敏感加权成像在脑创伤性轴索损伤预后评估中的应用
目的 探讨弥散加权成像(DWI)联合磁敏感加权成像(SWI)对脑创伤性轴索损伤(TAI)病灶的检出及在预后评估中的价值. 方法 回顾性分析75例TAI患者临床影像资料,平均年龄(71.7±11.5)岁,比较磁共振各序列对TAI病灶的检出数,多因素Logistic回归分析DWI联合SWI的影像学指标和临床指标与患者伤后6个月格拉斯哥预后评分(GOS)的相关性. 结果 75例DWI和SWI脑内TAI病灶平均检出数分别为(19.92±8.62)个、(22.17±11.72)个,两者间差异无统计学意义(t=l.24,P>0.05),与磁共振常规序列比较均差异有统计学意义(P<0.05).DWI对非出血性水肿病灶最为敏感,SWI对出血性病灶最为敏感,但两者检出病灶部分存在着损伤部位和病理性质的重叠.(2) DWI与SWI脑中轴部位病灶数在预后良好组与不良组间差异均有统计学意义(t=2.455,P<0.05).Logistic逐步回归分析显示两者脑中轴非重叠病灶数之和与临床相关因素结合后预测预后的准确率达95.7%. 结论 DWI和SWI均为TAI病灶检出的敏感序列,可分别检出不同病理学特性的病灶.两者影像学检查结果与临床因素相结合后可对TAI患者做出预后评估提供一定的依据.
创伤性轴索损伤、弥散加权成像、磁敏感加权成像
32
2013-04-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
145-148