根管显微镜在定位上颌磨牙近颊根第二根管中的作用

摘要：

目的:评价改进开髓口和应用根管显微镜(DOM)定位离体上颌第一、二磨牙近颊根第二根管(MB2)的能力.方法:收集离体上颌第一、二磨牙共550颗.在肉眼、传统三角形开髓口(N.E-1),肉眼、改进开髓口(N.E-2)和根管显微镜辅助(DOM)三种不同条件下分别探查根管,记录MB2数目.结果:N.E-1、N.E-2和DOM三种不同条件下,MB2发现率在上颌第一磨牙分别为34.26%、51.85%和78.24%;第二磨牙分别为16.17%、23.65%和41.32%.改进开髓口和使用DOM可显著提高MB2发现率,与传统开髓口间的差别有统计学意义,P＜0.05.结论:建议将上颌磨牙开髓口由传统的三角形改为斜四边形,并使用合适的放大技术和增强照明,以提高MB2发现率和治疗率.

关键词：根管、显微镜检查、上颌磨牙、近颊根第二根管、开髓口

所属期刊栏目：2

分类号：R783(口腔科学)

在线出版日期：2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：11-13