高功率微波辐射后下丘脑神经元凋亡和线粒体膜电位与Ca2+的变化

摘要：

目的 探讨高功率微波辐射后下丘脑神经元凋亡、线粒体膜电位与Ca2+的变化.方法 以10与30 mW/cm2高功率微波辐射原代培养的下丘脑神经元,于辐射后6 h采用倒置显微镜和流式细胞术检测细胞的凋亡、线粒体膜电位与胞浆钙离子的变化.结果 辐射后6 h,10与30 mW/cm2组凋亡率与假辐射组相比均明显增加;30 mW/cm2组辐射后坏死率与假辐射组比较亦明显升高,差异有统计学意义(P＜0.05).辐射后6 h,30 mW/cm2组Ca2+明显升高,膜电位性明显下降,差异均有统计学意义(P＜0.01).结论 细胞凋亡是下丘脑神经元死亡的主要方式之一,胞浆内Ca2+超载及线粒体膜电位的下降参与其损伤过程.

关键词：微波、神经元、细胞凋亡、钙、膜电位

所属期刊栏目：24

分类号：R3(基础医学)

在线出版日期：2007-01-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：739-741