氢氟酸处理对二硅酸锂玻璃陶瓷表面形貌及粗糙度的影响

摘要：

目的 探讨氢氟酸处理时间对二硅酸锂玻璃陶瓷表面形貌及粗糙度的影响,拟为与之相关的玻璃陶瓷机械强度和树脂粘接强度做出初步解释.方法 采用失蜡铸造法制作直径10 mm、厚1 mm的玻璃陶瓷片状试件15个,打磨抛光之后随机分为5组,每组3个.陶瓷表面分别接受9.5％的氢氟酸凝胶酸蚀处理0、20、40、60和120 s.使用原子力显微镜(AFM)测量表面粗糙度参数和酸蚀深度,观测其表面三维形貌,并结合使用场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)对陶瓷表面微观结构进行观察分析.结果 FE-SEM观察显示,陶瓷表面的玻璃基质首先被氢氟酸侵蚀溶解,随着酸蚀时间的延长,玻璃基质进一步被侵蚀,部分晶体结构也从陶瓷表面脱落、消失.AFM测量酸蚀表面得出,对照组、20、40、60和120 s氢氟酸处理组陶瓷片表面粗糙度Ra[分别为(17.2±1.6)、(241.8±23.6)、(290.6±38.2)、(322.6±19.6)和(371.3 ± 43.0) nm]随氢氟酸酸蚀时间的延长而显著增加(P＜0.05),且与酸蚀时间成正相关.结论 氢氟酸处理可显著增加二硅酸锂陶瓷表面粗糙度.结合使用FE-SEM和AFM能够更好地对玻璃陶瓷的酸蚀表面微观形貌结构进行分析评价.

关键词：玻璃陶瓷、酸蚀、场发射扫描电子显微镜、原子力显微镜、表面粗糙度

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分类号：TB3;O4

在线出版日期：2013-05-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：18-21