MR各成像序列对脑弥漫性轴索损伤的诊断价值

摘要：

目的比较MR各序列成像诊断脑弥漫性轴索损伤(DAI)的价值.方法对21例临床诊断DAI的患者行常规自旋回波(SE)T1WI、快速自旋回波(TSE)T2WI、流动衰减反转恢复序列(FLAIR)、扩散加权成像(DWI)和小角度激发快速梯度回波序列(FLASH)扫描,比较各序列脑内病灶的显示率,分析其信号特征.结果 FLASH为显示DAI病灶最敏感的序列,能显示常规序列所不能显示的DAI小针尖样大小的出血灶.21例各序列脑内各部位DAI病灶平均检出数依次为:T1WI(0.78±0.58)个、T2WI (1.96±1.30)个、FLAIR(2.98±2.39)个、DWI (3.67±2.75)个、FLASH (6.24±5.46) 个.FLASH的DAI病灶检出数最高,与SE T1WI、TSE T2WI的差异有统计学意义(q值分别为3.14、2.47,P值均＜0.05).结论 FLASH序列能提高DAI病灶的检出数及早期诊断率,应作为MR诊断DAI的首选序列.

关键词：脑弥漫性轴索损伤、磁共振成像、对比研究

所属期刊栏目：39

分类号：R5(内科学)

资助基金：广东省东莞市科技计划200355

在线出版日期：2005-11-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：952-955