小儿脑发育的低场强磁共振成像技术研究

摘要：

目的优选适合发育期小儿脑的低场强MR扫描序列.方法测量半卵圆中心灰、白质的T2值,观察T2值随月龄的变化.采用3种长TR序列[(1)常规TR 2 700 ms,TE 40、80 ms;(2)中等长TR 4 000 ms,TE 40、80 ms;(3)特长TR 5 000～8 000 ms,TE 40、80 ms]对各年龄组小儿进行检查,对各T2WI质量加以对比分析.结果 T2值的变化与髓鞘形成过程一致;新生儿期应选择特长TR序列,婴儿期应选择中等长TR序列,14个月以后可选常规TR序列.结论在观察新生儿、婴儿期脑室及脑外间隙时,长TR图像优于常规TR图像.

关键词：儿童、脑、磁共振成像

所属期刊栏目：36

分类号：R74(神经病学与精神病学)

在线出版日期：2004-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：554-556