增感屏-胶片组合体系的威纳频谱测试探讨

摘要：

目的　通过实验测试增感屏-胶片组合体系的威纳频谱(Wiener spectrum，WS)，评价X线照片的粒状性。方法　制作CaWO4屏- Kodak片、BaFCl:Eu屏- Kodak片、T颗粒技术3种增感屏-胶片组合体系的10 cm×10 cm粒状性抽样照片，用显微密度计扫描，获得10万个密度值，作为离散随机信号来处理，用快速傅立叶变换（fast Fourier transform，FFT）计算WS。结果　（1）BaFCl:Eu屏-Kodak片的WS值：当空间频率为0.1 LP/mm时,WS值为8.26×10-5mm2,分别是T颗粒技术、CaWO4屏- Kodak片取得照片WS值的2.25倍、1.53倍； 当空间频率为0.5 LP/mm时,WS值为5.23×10-5 mm2,分别是T颗粒技术、CaWO4屏- Kodak片取得照片WS值的2.68倍、1.42倍。（2）管电压由80 kV增加到90 kV时，T颗粒技术在各频率下的WS值均有所增加。结论　BaFCl:Eu屏- Kodak片组合体系的WS最大，T颗粒技术改善了照片的斑点问题，其WS值最小,故最好是采用T颗粒技术。

关键词：X线胶片、X线增感屏、数据收集、评价研究

所属期刊栏目：35

分类号：R81(放射医学)

资助基金：卫生部科研项目96-2-324

在线出版日期：2004-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：148-150