表观弥散系数值在鉴别胶质瘤复发与放射性脑损伤中的价值

摘要：

目的 分析表观弥散系数(ADC)值在鉴别脑胶质瘤复发与放射性脑损伤中的作用.方法 采用3.0T磁共振扫描机,对23例脑胶质瘤术后放疗后的患者(随访中出现异常强化灶)行脑部常规MRI检查及弥散加权成像(DWI)检查,23例患者均经二次手术或随访证实为胶质瘤复发或放射性脑损伤.DWI原始数据采用Functool软件进行ADC值测量,感兴趣区(ROIs)放置在病灶中DWI信号均匀处,并参考增强T1WI以避开出血及液化坏死区.所选ROI的ADC值由Functool自动计算出,为了减少误差,在强化病灶内测量10处ADC值,得到平均值、最大值及最小值.结果 胶质瘤复发及放射性脑损伤病灶中均常见出血、坏死、水肿等,导致ADC值具有较大差异.胶质瘤复发组平均ADC值及最大ADC值均小于放射性脑损伤组,但差异无统计学意义,而胶质瘤复发组最小ADC值明显小于放射性脑损伤组(P=0.016).结论 最小ADC值在鉴别胶质瘤复发与放射性脑损伤中有一定的意义.

关键词：弥散加权成像、磁共振成像、表观弥散系数、放射性脑损伤、胶质瘤复发

所属期刊栏目：34

分类号：R814(放射医学)

在线出版日期：2012-11-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：396-400