银纳米线蚀刻及其表面等离激元特性

摘要：

采用电子扫描显微镜(SEM)表征过氧化氢(H2O2)蚀刻的银纳米线表面形貌,采用紫外-可见(UV-vis)吸收光谱、荧光光谱以及拉曼光谱研究蚀刻后银纳米线的表面等离激元特性.结果表明:H2O2可有效蚀刻银纳米线表面形貌,与未蚀刻的银纳米线相比,蚀刻后的银纳米线平均直径减小,表面形成纳米凹槽以及立方状的银纳米粒子,银纳米线表面等离激元共振吸收峰强度增大,并呈现宽化.由于蚀刻后的银纳米线光电耦合增强,导致表面的电磁场强度增大,对罗丹明B(RB)探针分子的荧光辐射增强16.8倍,对RB探针分子的拉曼散射信号增强约6.2×105倍.这对于纳米金属表面增强光谱具有积极的应用意义.

关键词：银纳米线、蚀刻、表面等离激元、电磁场、表面增强光谱

所属期刊栏目：28

分类号：O436(光学)

资助基金：国家自然科学基金资助项目51273048,51203025;广东省自然科学资金资助项目S2012040007725Projects51273048,51203025supported by the National Natural Science Foundation of China;ProjectS2012040007725supported by Natural Science Foundation of Guangdong Province,China

在线出版日期：2018-05-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：572-578