方解石和萤石晶体表面断裂键性质和润湿性的各向异性

摘要：

计算方解石6个晶面和萤石3个晶面的表面断裂键密度,借助各向异性的表面断裂键密度预测两种含钙矿物的常见暴露面,分析表面断裂键密度与表面能之间的关系,利用接触角实验研究两种矿物常见暴露面的润湿性.表面断裂键密度计算分析表明,(10-14)、(21-34)和(01-1s)面及(111)面分别是方解石和萤石最常见的暴露面；两种矿物表面断裂键密度与表面能之间存在线性关系,其相关系数R2分别为0.9613和0.9969.接触角测量实验表明,两种矿物常见暴露面和水作用后的润湿性与表面断裂键密度有关,表面断裂键密度越大,亲水性越强,接触角越小；和油酸钠作用后的润湿性与表面Ca活性质点密度及质点的空间分布有关.

关键词：方解石、萤石、表面断裂键、解理、表面能、接触角、润湿性

所属期刊栏目：22

分类号：TU5;TG1

资助基金：Project 50834006 supported by the National Natural Science Foundation of China;Project CX2011B122 supported by Hunan Provincial Innovation Foundation for Postgraduate;Project 2011ybjz045 supported by Graduate Degree Thesis lnnovation Foundation of Central South University

在线出版日期：2012-08-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1203-1208