晶粒长大的Monte Carlo模拟方法——递归统计法测定晶粒度

摘要：

应用Monte Carlo(MC)法模拟在周期性边界条件下的晶粒长大行为.利用MC法模拟时,晶界处格点的迁移引起晶粒的长大,根据这一主要特征提出一种精确快速的测定晶粒度的新方法-递归统计法,然后采用递归统计方法测量晶粒度.结果表明,递归统计法测得的晶粒度比截点法的更精确,而且测量精确度不受模型的格点类型以及晶粒的尺寸、形状等的影响,测量速度比其他统计方法要快.

关键词：递归统计、晶粒度、Monte Carlo方法、晶粒长大

所属期刊栏目：18

分类号：TG111.7;T391.9(金属学与热处理)

资助基金：国家自然科学基金50061001;50661001;广西科学基金桂科基0342004-1;桂科基0639004

在线出版日期：2008-05-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：132-137