10.3321/j.issn:1004-0609.2008.01.005
Mg-Gd-Y-Zr合金表面含硫硅烷薄膜的结构与耐蚀性能
采用分子自组装的方法在Mg-Gd-Y-Zr合金表面制备双-(γ-三乙氧基硅丙基)四硫化物硅烷薄膜.通过傅立叶变换红外光谱研究薄膜结构特性,用扫描电镜观察薄膜表面形貌,并用电化学极化曲线和交流阻抗测试研究薄膜的耐蚀性能.结果表明,镁合金表面薄膜通过SiOSi链接形成网状结构,并可能通过形成SiOMg界面相结构与镁合金表面连接;晶界上薄膜厚度小于其他各处;薄膜将腐蚀电流密度降低2个数量级以上,明显提高了盐水浸泡过程中的阻抗值.
Mg-Gd-Y-Zr合金、硅烷、薄膜、腐蚀
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TG174.46(金属学与热处理)
2008-05-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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