电参数对镁合金微弧氧化膜厚度的影响
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3321/j.issn:1004-0609.2007.10.003

电参数对镁合金微弧氧化膜厚度的影响

引用
在自行研制的电解液中,采用四因素三水平正交实验,系统研究频率、占空比、电流密度和终电压对AZ91HP镁合金氧化膜厚度的影响.结果表明,各因素的主次顺序为终电压>电流密度>占空比>频率.终电压对氧化膜厚度影响显著,电流密度对氧化膜厚度有影响但不显著,占空比和频率对氧化膜厚度无显著影响.氧化膜层的耐蚀性并不是仅仅由厚度决定,而是由多种因素综合作用的结果.

镁合金、微弧氧化、电参数、厚度

17

TG174(金属学与热处理)

2007-12-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

1574-1579

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

中国有色金属学报

1004-0609

43-1238/TG

17

2007,17(10)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn