10.3321/j.issn:1004-0609.2004.12.011
纳米薄膜X射线吸收光谱的鉴定
采用X射线吸收光谱研究了热丝化学气相沉积(CVD)合成的纳米金刚石薄膜和脉冲激光沉积的纳米SiC薄膜.结果表明:纳米金刚石薄膜的碳K边X射线吸收精细结构光谱显示的激发峰相当于微米金刚石薄膜的蓝移,是量子效应的显著特征,证明制备的是纳米金刚石薄膜,与高分辨透射电镜的结果完全吻合;纳米SiC薄膜的硅K边X射线吸收精细结构光谱和扩展X射线吸收精细结构光谱也显示了纳米薄膜短程有序的结构特征,表明获得的是纳米SiC薄膜.
纳米薄膜、X射线吸收光谱、纳米金刚石、蓝移
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O434.12;O434.19;O722+.8;N34(光学)
美国国家科学基金DMR-0084402
2005-03-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
2043-2048