WC粉末X射线衍射的粒度效应

摘要：

用X射线衍射研究粒度10.86～0.124 μm系列 WC粉末的粒度效应. 随粒度变小, 衍射线线形发生明显变化, 从敏锐到极其漫散. 亚微米级粒度的WC粉末谱线半高宽随粒度变细显著变化, 半高宽是度量粒度效应的主要指标, 而对于微米级粒度的粒度效应则可应用谱线背底宽度来衡量. 极细和超细粒度WC粉末衍射谱线的2 θ位置明显偏离平衡位置, 这与临近纳米粒度有关. WC粉末衍射强度也随粒度产生明显变化 , 衍射强度随粒度变细的变化规律与半高宽的规律呈反转对应关系. 应用WC粉末X射线衍射的粒度效应, 尤其是谱线宽化的规律作为评定亚微米级WC粉末粒度尤其是极细和超细粒度, 是有应用前景的.

关键词：WC粉末、粒度、粒度效应、X射线衍射、谱线宽化

所属期刊栏目：12

分类号：TG135(金属学与热处理)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：442-447