基于MCU+CPLD结构的智能测控仪表的开发
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1005-2852.2007.01.015

基于MCU+CPLD结构的智能测控仪表的开发

引用
本文采用智能仪表构建一个完整的温度控制系统,包括仪表端控制程序的编制,仪表与PC机的通信,利用VB编写上位机应用程序.在应用程序中实现过程曲线的描绘与保存、控制参数的修改、超调量的测量、利用数据库保存过程历史数据等.

智能仪表、温控系统、PID控制、串口通信

TP3(计算技术、计算机技术)

2007-03-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

57-59

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

中国仪器仪表

1005-2852

11-3359/TH

2007,(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn