PTEN抑制剂对高糖诱导的内皮细胞衰老的影响

摘要：

目的： PTEN抑制剂对高糖诱导内皮细胞衰老的影响。方法原代内皮细胞的培养和鉴定,CCK8检测细胞生存率,实验分为正常组( C)、高糖组( HG),PIC处理组( PIC)。 C组糖浓度为5．6 mmol·L-1(C组),HG浓度为30 mmol·L-1(HG),PIC组过氧钒(PIC)浓度为10、100 nmol·L-1,预培养半小时后加高糖。流式细胞测定细胞凋亡,β-半乳糖苷酶染色试剂盒( SA-β-Gal)染色测定阳性细胞数,实时定量PCR测定p16、PTEN基因表达,Western 印迹检测总PTEN p16蛋白表达水平。结果高糖降低内皮细胞生存率,高糖诱导内皮细胞PTEN基因及蛋白表达增加,增加β-半乳糖苷酶染色性阳性细胞数, p16、PTEN基因及蛋白表达增加。 PIC增加高糖诱导的内皮细胞生存率,降低高糖诱导的内皮细胞p16、PTEN基因及蛋白的表达。高糖可以诱导内皮细胞凋亡,PIC降低高糖诱导的内皮细胞凋亡率。结论适当浓度PTEN抑制剂降低高糖诱导的内皮细胞衰老。高糖作用时间6 d可以诱导内皮细胞凋亡,PIC降低高糖诱导的内皮细胞凋亡率。

关键词：内皮细胞、PTEN、p16、细胞衰老、PI3K-AKT、高糖

所属期刊栏目：32

分类号：R329.25;R339.38;R394.2;R977.3;R977.6(人体形态学)

资助基金：国家临床重点专科老年医学项目2010306;福建省自然科学基金资助项目2014J01335

在线出版日期：2016-05-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：514-518,519