短暂脑缺血发作与磁共振的研究

摘要：

目的 对113例TIA患者进行磁共振影检查以研究其转归.方法 将113例TIA患者分为:A组:2周内无TIA发作;B组:2周内反复有TIA发作;C组:2周内发展为缺血性脑卒中.采用0.5 T超导永磁磁共振成像仪分别于住院时、住院后2周对患者成像扫描.结果 3组病人MRI检查结果在各个序列的责任病灶阳性率存在显著差异,其差别有统计学意义(P<0.05).2周后 A组阳性率明显降低;B组较2周前低近一半;C组所有病例均于不同序列出现改变.结论 TIA早期影像改变与其预后有显著相关性.

机标关键词：短暂脑缺血发作、永磁磁共振成像、缺血性脑卒中、磁共振成像仪、阳性率、显著相关性、统计学意义、成像扫描、检查结果、显著差异

所属期刊栏目：4

分类号：R445(诊断学)

在线出版日期：2011-09-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：43-44