罩退重卷带头印缺陷原因分析及控制措施

摘要：

分析了带头印缺陷产生的原因,并对原因进行筛选,确定了卷取张力、上卷温度、行程开关位置、硬芯卷取以及皮带液压系统压力设置不合理等因素为关键影响因子.将上卷温度控制在45℃以内,开展微套、前3圈不建张、平缓建张等措施改善带头印缺陷,通过一系列攻关试验后制定工艺参数,并通过批量试验不断优化并固化工艺参数,带头印缺陷平均长度由88.7降至34.2 m,带头印缺陷明显降低.

关键词：带头印、微套、张力、温度

所属期刊栏目：29

在线出版日期：2019-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：72-76