CePO4低指数晶面结构性质的密度泛函理论研究

摘要：

采用密度泛函理论系统研究了 CeP04三个低指数晶面的几何结构、原子弛豫和表面能.通过观察表面结构以及比较表面能大小得出最优晶面.结果表明:表面原子均存在不同程度的弛豫,表面原子弛豫程度导致表面能的差异.表面能的大小顺序为(010)＜(100)＜(001),(010)晶面是CePO4晶体稳定表面.稳定表面几何结构表明,终止末端暴露原子为O原子.使用Wulff结构计算的平衡形态表明(001)晶面、(010)晶面和(100)晶面面积分别占总晶体形状面积的14％,45％和41％.低能表面在Wulff结构中起主导作用,表面能越低的晶面面积占比越大.稳定的CePO4晶面存在不饱和键,有利于气体分子的吸附.这项工作对CePO4在其他方面的密度泛函理论(DFT)研究具有指导性意义,并将为CePO4基催化剂上的吸附和解离提供稳定表面.

关键词：CePO4、表面能、稳定表面、密度泛函理论计算

所属期刊栏目：40

分类号：TQ133.3

资助基金：国家自然科学基金;内蒙古自然科学基金资助项目

在线出版日期：2022-08-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：672-680