La2-xPrxNiO4+δ体系低频内耗研究

摘要：

利用内耗技术对La2-xPLNi04+δ(0≤x≤2.0)体系额外氧的状态进行了深入研究.h2-xPrxNiO4+δ (0≤x≤2.0)系列样品的XRD数据拟合计算得出:当x小于等于0.75时,体系为四方结构,而当x大于0.75时,体系转变为正交结构.通过对体系低频内耗和模量的测量研究发现,当0≤x≤0.75时,样品只存在一个弛豫内耗峰(P1峰),其峰值随x值增大而增大,与额外氧的浓度成正相关;当1.0≤x≤2.0时,样品中存在两个弛豫内耗峰,分析研究表明:高温侧内耗峰P1对应着前面发现的内耗单峰,它是由ab面额外氧对的取向弛豫运动引起的,在这里该内耗峰峰值随x值增大而减小,显然是受到额外氧的三维有序结构形成的影响.低温侧内耗峰峰P2可能与额外氧对的新的组态运动方式有关.

关键词：La2-xPrxNiO4+δ、额外氧、内耗、稀土

所属期刊栏目：33

分类号：O48(固体物理学)

资助基金：国家自然科学基金项目10574123,11204406资助

在线出版日期：2015-11-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：602-608