10.3969/j.issn.1673-9957.2018.09.010
基于ARM的数字集成电路测试系统的研究
为了丰富数字集成电路测试系统功能,实现上位机数据独立传送,本文采用ARM控制器,设计一套数字集成电路测试系统.首先,对ARM处理器进行简要概述,其次,明确设计目标,提出系统设计方案,最后,制定系统调试步骤,并对其调试结果做出分析.调试结果表明:本文提出的数字集成电流测试系统设计方案满足设计要求.
ARM、数字集成电路测试、软件架构
TP311(计算技术、计算机技术)
2018-05-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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