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电离辐射诱导人正常角化细胞衰老死亡的作用机制研究

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目的 研究电离辐射对人正常角化细胞的影响,探讨放射治疗引起口腔黏膜炎的可能作用机制.方法 原代培养正常人角化细胞在5 Gy辐射后,SA β-Gal染色法检测细胞衰老情况,CM-H2DCF-DH染色法检测细胞活性氧产生情况,实时荧光定量PCR检测氧化酶基因表达情况,γ-H2AX免疫荧光染色检测细胞DNA修复能力.结果 电离辐射可引起人正常角化细胞衰老死亡,细胞内活性氧大量产生,氧化酶基因表达明显增高,细胞DNA双链断裂.结论 电离辐射引起的正常角化细胞衰老死亡与活性氧产生和DNA损伤有关,这可能是放射治疗引起口腔黏膜炎的作用机制之一.

电离辐射、人正常角化细胞、活性氧、DNA修复

23

R818(放射医学)

2016-01-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

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1005-8982

43-1225/R

23

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