电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钨精矿中的二氧化硅量

摘要：

二氧化硅含量高低是衡量钨精矿品质的重要指标之一,其对后续生产钨制品的产品质量会产生重要影响,故钨精矿产品标准YS/T231-2015将其列为杂质含量指标.钨精矿二氧化硅量的测定目前主要采用的方法为国标GB/T6150.12-2008,该方法通过焦硫酸钾熔融样品后经重量法或分光光度法进行测定.试验采用电感耦合等离子体发射光谱法测定钨精矿中二氧化硅量,试验对分析谱线、熔融条件、共存离子干扰、熔剂用量、盐效应和磷酸用量等方面进行了考察,进行了精密度试验和方法比对,结果表明试验方法操作比国标方法更为简便且准确度好、精密度高.

关键词：电感耦合等离子发射光谱法、钨精矿、二氧化硅

所属期刊栏目：33

分类号：O613.72;O657.31(无机化学)

在线出版日期：2019-03-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：71-75