10.3969/j.issn.1009-0622.2014.02.09
制备工艺对掺铕的钨酸钙薄膜发光性能的影响
采用射频溅射法在硅片上沉积了Ca0.98WO4∶Eu0.02薄膜,利用正交试验研究了溅射时间、气压和功率对Ca0.98WO4∶Eu0.02薄膜的红光(615 nm)发光强度的影响。荧光分析表明,溅射法沉积的Ca0.98WO4∶Eu0.02薄膜需在700~800℃热处理后才能强烈地表现出Eu3+离子的特征发光行为;正交试验说明,溅射气压、时间和功率对薄膜的发光强度都有重要影响,溅射气压的影响尤为重要。研究还表明,为提高发光强度,溅射气压宜控制在1.0 Pa左右,溅射时间在160 min。
钨酸钙、铕、溅射、薄膜、发光性能
TB383;TF804.3(工程材料学)
国家自然科学基金项目资助50802036
2014-05-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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