10.3969/j.issn.2095-1035.2018.01.005
粉末压片制样-X射线荧光光谱(XRF)法测定钛铁矿中TFe、TiO2、SiO2、Al2O3、CaO、MgO的含量
以粉末压片法制样,采用X射线荧光光谱(XRF)法测定钛铁矿中TFe、TiO2、SiO2、Al2O3、CaO、MgO的含量.对样品的矿物效应、样品粒度、分析谱线等条件进行优化.利用不同产地的质控样品制作工作曲线,验证矿物效应影响不大;通过样品粒度小于74μm,很好地解决了颗粒粒度效应的影响.精密度实验表明,待测组分的相对标准偏差均低于3.6% (RSD,n=10),能满足钛铁矿中各组分的测定要求.
快速分析、粉末压片、钛铁矿
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O657.34;TH744.14(分析化学)
2018-04-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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