X射线荧光光谱法测定电解锰中锰、硅、磷和铁含量

摘要：

熔融制样X射线荧光光谱法测定电解锰中锰、硅、磷和铁含量.用熔融后的四硼酸锂制作铂金坩埚保护层,以BaO2做氧化剂,在马弗炉内通过逐渐升温来氧化电解锰,然后熔融制取玻璃熔片,用X射线荧光(XRF)光谱法分析电解锰中锰、硅、磷和铁含量.锰、硅、磷和铁的相对标准偏差RSD分别为0.23％、2.82％、0.31％和0.53％.与其它分析方法比较,其结果更稳定.有效消除了电解锰熔融制样过程中的坩埚腐蚀问题,分析误差可完全控制在国家相关标准允许的范围内,实现了电解锰中各元素的快速准确测定.

关键词：电解锰、X射线荧光光谱、熔融制样

所属期刊栏目：1

分类号：O657.34;TH744.16(分析化学)

在线出版日期：2012-01-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：43-45,72