10.3969/j.issn.2095-1035.2011.03.0009
X射线荧光光谱法测定电解锰中锰、硅、磷和铁含量
熔融制样X射线荧光光谱法测定电解锰中锰、硅、磷和铁含量.用熔融后的四硼酸锂制作铂金坩埚保护层,以BaO2做氧化剂,在马弗炉内通过逐渐升温来氧化电解锰,然后熔融制取玻璃熔片,用X射线荧光(XRF)光谱法分析电解锰中锰、硅、磷和铁含量.锰、硅、磷和铁的相对标准偏差RSD分别为0.23%、2.82%、0.31%和0.53%.与其它分析方法比较,其结果更稳定.有效消除了电解锰熔融制样过程中的坩埚腐蚀问题,分析误差可完全控制在国家相关标准允许的范围内,实现了电解锰中各元素的快速准确测定.
电解锰、X射线荧光光谱、熔融制样
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O657.34;TH744.16(分析化学)
2012-01-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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43-45,72