基于像素采样不足的伪迹处理方法

摘要：

在实际的三维锥束CT重建中,受扫描结构的限制,当连续X射线穿过物体时,像素对射线的采样间隔不能满足Nyqust采样定理,这样通道信号产生混叠,使得重建图像出现伪迹.本论文针对这一问题,在用splatting算法[1-2]计算代数重建算法权系数的基础上,分析了伪迹产生的原因并对对应的内插函数作了适当的变换,提出了适用于3-D锥束圆轨迹CT扫描系统的去伪处理方法.结果 表明,经过去伪处理后,重建图像的分辨率明显提高.

关键词：去伪处理、锥束扫描、内插函数、伪迹

所属期刊栏目：13

分类号：TN911.74

资助基金：国家自然基金资助项目60532080

在线出版日期：2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：129-133