裂纹表征方式与潜藏现象对测量ZTA纳米复相陶瓷KIC值的影响

摘要：

研究裂纹表征方式与潜藏现象对测量ZTA纳米复相陶瓷KIC值的影响,采用压痕法对ZTA陶瓷试样进行硬度及断裂韧性测试,并且利用光镜和扫描电镜两种方式进行相关长度值测量.结果表明:扫描电镜测试值普遍低于光镜测试值,这主要是由于裂纹的表征方式差异导致的放大倍数不同与裂纹潜藏现象所致;在相同的材料体系和载荷条件下,光镜和扫描电镜测试KIC值数据可以近似进行线性拟合,其关系方程式为y=1.152x-0.199664.利用此方程可以实现两种测试值之间的近似转换,进而提高光镜测试准确性.

关键词：ZTA、压痕法、纳米复相陶瓷、裂纹

所属期刊栏目：53

分类号：TQ174.75+8.23

资助基金：国家科技支撑计划;教育教学改革研究项目

在线出版日期：2017-03-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：15-19