Y5V多层陶瓷电容器低频介电性能失效研究

摘要：

研究了Y5V多层陶瓷电容器(MLCC)在直接浸泡和电化学注氢两种作用下的低频介电性能.结果表明直接浸泡对样品性能的影响很小,这与电子元器件成品的封装技术造成的保护作用有关.然而电化学注氢会对样品造成显著的影响,样品的电容值会随之减小,同时其介电损耗及漏电流增大,这是由于电化学注氢过程中所产生的氢离子会沿着电容器的电极进入元件内部,从而与原材料产生作用造成的,这种作用效果会随着电容器的多层结构而显著表现出来.

关键词：Y5V、多层陶瓷电容器、低频介电性能、失效

所属期刊栏目：51

分类号：TQ174.75+6

资助基金：国家自然科学基金;海南省自然科学基金;海南省高等学校科学研究项目;海南师范大学拟建物理学硕士点项目

在线出版日期：2015-04-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：54-57,65