TGO不规则生长对热障涂层界面残余应力的影响

摘要：

采用有限元方法,利用Abaqus商用软件,对TGO(thermally grown oxide)层局部生长引起的残余应力进行了数值模拟计算,在TGO内部是否存在孤岛对应力分布的影响进行了对比分析.结果表明:当不存在BC孤岛时,TGO凸起的底端应力集中明显,容易发生开裂、破坏;当存在Bc孤岛时,能够极大地增加涂层的应力,并且在BC孤岛处形成了明显的应力集中,导致破坏.从而为氧化层的失效判断以及热障涂层寿命预测提供一定的帮助.

关键词：热障涂层、有限元方法、残余应力、氧化层、BC孤岛

所属期刊栏目：50

分类号：TG174.453(金属学与热处理)

资助基金：国家自然基金项目No.11232008

在线出版日期：2014-09-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：28-34